Analysis de signis Sinarum et aliarum regionum,
Analysis de signis Sinarum et aliarum regionum,
CTIA, abbreviatio Telecommunicationum Cellulariarum et Consociationis interretialis, non prodest institutio civilis ab anno 1984 constituta, ad utilitatem operatorium, fabricantium et utentium praestandam. CTIA consistit in omnibus US operariis et fabricatoribus ex officiis radiophonicis mobilibus, tum ex usuris et emolumentis wireless data. Subnixus a FCC (Commissio Communicationis Foederalis) et Congressus, CTIA magnam partem officiorum et munerum, quae a regimine agebantur, exercet. Anno 1991, CTIA productum aestimationem et certificationem systematis wireless industriae incorruptam, independentem et centralem creavit. Sub systemate, omnes fructus wireless in gradu consumendi capient probationes obsequia et quae signis pertinentibus obsequuntur ut uti CTIA notatione concedatur et copia crustae communicationis Americanae Septentrionalis mercatus feriatur.
CATL (CTIA Authorised Testis Laboratorium) significat labs ab CTIA adprobatum ad probationem et recognitionem. Testis relationibus a CATL editis CTIA approbata essent omnia. Dum aliae relationes probatio et proventus ex non-CATL non agnoscuntur neque ad CTIA accessum habent. CATL CTIA in adprobatis industriis et certificationibus variat. Tantum CATL quod est idoneum ad altilium obsequii experimentum et inspectionem accessum habet ad certificationem altilium pro obsequio ad IEEE1725.
a) Certification Necessitas pro Pugna systematis Obsequium IEEE1725- Applicabilis ad Systemata Pugna una cum cellulis vel pluribus cellulis in parallelis connexis;
b) Certification Necessitas pro Pugna systematis Obsequium ad IEEE1625- Systema Pugnae cum pluribus cellulis in parallelis vel in utroque parallelo et serie connexis;
Apicibus calidis: supra certificationem signa selecta proprie pro batteries in telephoniis gestabilibus et in computers adhibitis. Noli IEE1725 abutere pro gravida in telephoniis mobile vel IEEE1625 pro gravida in computatris.
●Durum Technology:Ab anno MMXIV, MCM interfuit colloquio machinali altilium CTIA in US annuatim habito, et potest ad recentissimam renovationem obtinere et novas rationes de CTIA trendos intelligere modo promptiore, accuratiore et actuoso.
●Quid:MCM est CATL a CTIA adprobatum et idoneus ad omnes processus ad certificationes pertinentes ad probationem, computum fabricandum et nuntiationem discendi accommodatus.
Modi probationes similes sunt inter IEC 61960-3:2017, IEC 62620:2014 et JIS C 8715-1:2018. The main distinctions are as followed: Testis temperaturae diversae sunt. IEC 62620:2014 et JIS C 8715-1:2018 temperat 5℃ altiorem temperatura ambientis quam IEC 61960-3:2017. Inferior temperatus eam altiorem viscositatem electrolytici faciet, quae motus ionuum inferiorum causabit. Sic reactiones chemica tardius erit, et resistentia Ohm et resistentia polarizatio maior fiet, quae inclinatio DCIR incrementi causabit. Temperatura probata diversa sunt. IEC 62620:2014 et JIS C 8715-1:2018 temperat 5℃ altiorem temperatura ambientis quam IEC 61960-3:2017. Inferior temperatus eam altiorem viscositatem electrolytici faciet, quae motus ionuum inferiorum causabit. Sic reactionem chemicam tardius erit, et resistentia Ohm et resistentia polarizatio maior fiet, quae inclinatio DCIR incrementi causabit. Distinctio periodi alia est. IEC 62620:2014 et JIS C 8715-1:2018 longioris missionis tempus requirit quam IEC 61960-3:2017. Longum pulsum periodum inferiorem inclinatio DCIR augere faciet, et deviationem ab linearitate exhibebit. Ratio est quia temporis pulsus crescens causa altiorem Rct et dominans fiet. Excursus emissi inter se differunt. Attamen currentis missio ad DCIR non necessario directe refert. Relatio determinatur a consilio.